Sphere-3000 光學元件反射率測量儀,Sphere3000是一套全波長顯微球面光學元件光譜分析儀，能快速準確地測量各類球面/非球面器件的相對/反射率。適用于凸透鏡、凹透鏡、鏡片等的鍍膜反射率測量。還可進行有干涉條紋的單層膜厚或折射率測量。

手機蓋板激光干涉儀，光學玻璃的透射波前是指一個標準的波形（平面波、球面波等）被透射或反射后的波形，它主要用于光學成像的像質評價。隨著透射光學系統（如手機平板等攝像系統等）的成像質量要求越來越高，迫切需要高精度的光學玻璃透射波前的檢測手段。高精度的檢測方法主要是用干涉法檢測波前畸變。

透過率測量儀（TMS-Ⅰ）1、實時顯示測量樣品關注波長位置的透射率數據，自動調整顯示坐標范圍，高效地進行批量樣品檢測及譜圖對比分析。 2、檢測時間毫秒級：高性能探測器，可在1秒內時間重現性高的測定； 3、可以自行定義測量的方案，同時設置判定標準，使檢測更快速，結果更準確。

KRUSS克呂士DSA100接觸水滴角測量儀，1796年， Paul KRüSS先生就在德國漢堡市成立了KRüSS公司。近60年來，KRüSS公司放棄了所有其他產品，致力于表界面領域測量技術和設備的創新，開發了一款全自動表面張力儀，一款全自動接觸角測量儀，使之成為市場表界面研究和檢測的標準。今天我們仍滿懷熱情，堅持不懈地將技術融入新一代的產品中，為客戶提供

KRUSS克呂士DSA30接觸水滴角測量儀，1796年， Paul KRüSS先生就在德國漢堡市成立了KRüSS公司。近60年來，KRüSS公司放棄了所有其他產品，致力于表界面領域測量技術和設備的創新，開發了一款全自動表面張力儀，一款全自動接觸角測量儀，使之成為市場表界面研究和檢測的標準。

德國克呂士KRUSS標準型DSA25接觸角測量儀，1796年， Paul KRüSS先生就在德國漢堡市成立了KRüSS公司。近60年來，KRüSS公司放棄了所有其他產品，致力于表界面領域測量技術和設備的創新，開發了一款全自動表面張力儀，一款全自動接觸角測量儀，使之成為市場表界面研究和檢測的標準。

德國克呂士KRUSS便攜式接觸角測量儀，1796年， Paul KRüSS先生就在德國漢堡市成立了KRüSS公司。近60年來，KRüSS公司放棄了所有其他產品，致力于表界面領域測量技術和設備的創新，開發了一款全自動表面張力儀，一款全自動接觸角測量儀，使之成為市場表界面研究和檢測的標準。

克呂士DSA30M型顯微接觸角測量儀，1796年，Paul KRüSS先生就在德國漢堡市成立了KRüSS公司。近60年來，KRüSS公司放棄了所有其他產品，致力于表界面領域測量技術和設備的創新，開發了一款全自動表面張力儀，一款全自動接觸角測量儀，使之成為市場表界面研究和檢測的標準。

克呂士DSA100L型大尺寸表面接觸角測量儀，1796年， Paul KRüSS先生就在德國漢堡市成立了KRüSS公司。近60年來，KRüSS公司放棄了所有其他產品，致力于表界面領域測量技術和設備的創新，開發了一款全自動表面張力儀，一款全自動接觸角測量儀，使之成為市場表界面研究和檢測的標準。

太陽能膜厚納米厚度測量儀自動化薄膜厚度繪圖系統Filmetrics F50 系列的產品能以每秒測繪兩個點的速度快速的測繪薄膜厚度。一個電動R-Theta 平臺可接受標準和客制化夾盤，樣品直徑可達450毫米。（耐用的平臺在我們的量產系統能夠執行數百萬次的量測!）測繪圖案可以是極座標、矩形或線性的，您也可以創造自己的測繪方法，并且不受測量點數量的限制。內建數十種預定義的測繪圖案。

生物醫療薄膜納米厚度測量儀依靠 F60光學膜厚測量儀 先進的光譜測量系統，可以很簡單快速地獲得薄膜的厚度分布圖。采用 r-θ 極坐標移動平臺，可以非?？焖俚亩ㄎ凰铚y試的點并測試厚度，測試非?？焖?，大約每秒能測試兩點。用戶可以自己繪制需要的點位地圖

光學薄膜納米厚度測量儀操作簡單且高性價比的減反射與硬涂層檢測Filmetrics F10-ARc使得自動測試眼科涂層變得又快又簡便?，F在，不論生產線操作人員還是研發技術人員都能在幾秒鐘內檢測和記錄涂層情況。多重光譜比較目標光譜與多重反射光譜比較–自動評估反射率，小/大位置，并得出明確的讀數結論。量化殘余顏色殘余顏色可以用基本的色彩空間系統形象化的顯示。比如CIELAB 和 CIEXYZ。